2015年度工学院大学大学院・電気・電子工学専攻

電気応用物性計測特論(Advanced Surface Instrumentation for Electrical Application)[2209]


2単位
渡辺 克忠 非常勤講師  [ 教員業績  JP  EN ]
最終更新日 : 2015/10/17

<授業のねらい及び具体的な到達目標>
近年、さまざまな分析機器が世の中に多く登場している。これらの計測機器の高度で高性能化された医療機器により多くの人命が救われている。電気の分野でも様々な計測機器のお陰で快適な暮らしが送れるれるようになっている。本講義では電気の接続部分の解析に拘る重要な分析機器の動作原理をわかりやすく講義し基礎知識を会得できるように工夫する。さらにそれぞれの特徴に応じた計測機器の概念と応用について講義する。

<授業計画及び準備学習>
準備学習>学部時代の電気物性論や電気計測の教科書をよく復習しておくこと。
<授業計画>
1.R.Holmの接触境界抵抗の理論
2.Constriction resistanceの計算
3. 4端子法の原理
4.Wiedemann-Franz-Lorentzの法則
5.Symmetric constrictionにおけるφ―Θ理論
6.Fritting 現象応用したIn-situ計測
7.Greenwoodの多点接触理論
 1)数学的解析
8.Greenwoodの多点接触理論
 2)クラスタモデルを適用した計算
9,レーザ顕微鏡の動作原理
10.実機を使って解析技術体験。
9.電子プローブ顕微鏡の動作原理
10.EPMA分析
11.原子間力顕微鏡の原理と種類
12.タッピングAFMの動作原理
13.表面電位顕微鏡(SPoM)
14.AFMによる解析を体験または講習会の模擬体験
15.研究課題を課し,学習成果を確認する。

<成績評価方法及び水準>
試験または研究課題のレポートで60点以上を合格とする。

<教科書>
必要な資料、論文は配布する。

<参考書>
授業中に指示する。

<オフィスアワー>
質問随時受付可
メールアドレス:watanabe@cc.kogakuin.ac.jp

<学生へのメッセージ>
電気を志す人が必ず直面する大切で重要な問題をできるだけわかりやすく講義しており毎年好評です。


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