2010年度工学院大学大学院・電気・電子工学専攻

応用計測特論(Advance Applied Instrumentation)[3308]


2単位
山崎 貞郎 准教授  
[ 教員業績  JP  EN ]

最終更新日 : 2010/11/24

<授業のねらい及び具体的な達成目標>
 計測技術は多岐にわたり,実社会へ大きな利便を提供している。本講義においては,進歩の著しい計測技術について幅広く取り上げ,学問的な理解を深めるとともに,修論研究などにおける計測の利用者としての立場も視野に入れ,実用的な事例の修得を達成目標とする。

<授業計画及び準備学習>
1) 序論
2) 計測標準とトレーサビリティ
3) 信号の検出と変換技術
4) 計測システム構成技術
5) 時間・空間の計測技術
6) 力学量の計測技術
7) 温度・熱・熱物性の計測技術
8) 光・波動応用計測技術
9) 化学計測技術
10) マイクロセンシングシステム
11) 生体医用工学における計測技術
12) 極限計測技術
13) 計測技術の産業応用
14) 計測技術と社会システム
15) 学習成果の確認(試験)
◆準備学習: 必要に応じて配布するプリントの指定箇所(講義中に指定)について予習をおこなう.

<成績評価方法及び水準>
原則として定期試験で最終成績を評価,60点以上の者に単位を認める.

<教科書>
必要に応じプリントを配布する.

<オフィスアワー>
前期水曜日 14:50〜16:20,
5号館606室.それ以外でもメールで約束の上,対応可.
E-mail: yamazaki@cc.kogakuin.ac.jp

 

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