2010年度工学院大学大学院・電気・電子工学専攻
☆応用計測特論(Advance Applied Instrumentation)[3308]
2単位 山崎 貞郎 准教授 [ 教員業績 JP EN ]
- <授業のねらい及び具体的な達成目標>
- 計測技術は多岐にわたり,実社会へ大きな利便を提供している。本講義においては,進歩の著しい計測技術について幅広く取り上げ,学問的な理解を深めるとともに,修論研究などにおける計測の利用者としての立場も視野に入れ,実用的な事例の修得を達成目標とする。
- <授業計画及び準備学習>
- 1) 序論
2) 計測標準とトレーサビリティ 3) 信号の検出と変換技術 4) 計測システム構成技術 5) 時間・空間の計測技術 6) 力学量の計測技術 7) 温度・熱・熱物性の計測技術 8) 光・波動応用計測技術 9) 化学計測技術 10) マイクロセンシングシステム 11) 生体医用工学における計測技術 12) 極限計測技術 13) 計測技術の産業応用 14) 計測技術と社会システム 15) 学習成果の確認(試験) ◆準備学習: 必要に応じて配布するプリントの指定箇所(講義中に指定)について予習をおこなう.
- <成績評価方法及び水準>
- 原則として定期試験で最終成績を評価,60点以上の者に単位を認める.
- <教科書>
- 必要に応じプリントを配布する.
- <オフィスアワー>
- 前期水曜日 14:50〜16:20,
5号館606室.それ以外でもメールで約束の上,対応可. E-mail: yamazaki@cc.kogakuin.ac.jp
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