□マテリアルの分析（Analysis of Materials）[5159]

＜授業のねらい及び具体的な達成目標＞

近年の電子材料開発および環境材料開発など多くの先端分野において、材料の果たす役割はきわめて重要である。これらの領域の研究、開発を行う研究者および技術者にとって、機器分析は必要不可欠な材料評価技術である。本講では、今日代表的な機器分析法についての原理、特徴および簡単なデーター解析法を解説することにより、機器分析法の基礎知識の修得を目指す。

＜授業計画＞

１．本講義についてのイントロダクション
２．材料から得られる情報とその分解能
３．プローブから見た機器分析法の分類
４．プローブとしての線源
　4-1. 電子線源
　4-2. Ｘ線源
　4-3. イオン源
５．電子をプローブとする分析法（３回）
　5-1. 電子顕微鏡、電子線プローブマイクロアナリシス
　5-2. オージェ電子分光法
６．電磁波をプローブとする分析法（５〜６回）
　6-1. 核磁気共鳴法
　6-2. X線光電子分光法
　6-3. X線回折法
７．イオンをプローブとする分析法
　7-1. ２次イオン質量分析法、質量分析法

＜成績評価方法及び水準＞

期末試験８０％、レポート点２０％として１００点満点で評価する。ただし、レポートについては所定の用紙を使用して提出したもののみ採点対象とする。

＜教科書＞

使用しない

＜参考書＞

山科俊郎、福田伸「表面分析の基礎と応用」（東京大学出版会・3605円）
入戸野修、小林睦弘　編訳「電子・イオンを用いた材料分析法入門」（内田老鶴圃・2060円）
江藤守総　編著「機器分析の基礎」（裳華房・2835円）
上田陽「第４改稿版 機器分析」（広川書店）

＜オフィスアワー＞

授業の前後

＜学生へのメッセージ＞

授業中の私語禁止
どんな基本的な質問でも歓迎します。疑問を持ち越さず、対話が出来れば理解が深まります。

＜備考＞

期末試験は、自筆ノートと電卓のみを持ち込み可とする。（授業中に配布した資料などは持ち込み不可）

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