2005年度工学院大学 第1部マテリアル科学科

マテリアル分析論(Materials Analysis)[3147]

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2単位
栗林 清 非常勤講師

最終更新日 : 2005/05/25

<授業のねらい及び具体的な達成目標>
近年の電子材料開発、および地球環境材料開発など、多くの先端分野において材料の占める役割はきわめて重要である。このため、これらの領域の研究、開発を行う研究者にとって、機器分析は必要不可欠な材料評価法である。本講では今日代表的な機器分析法の原理、特徴そして簡単なデータ解析法を解説することにより、基礎知識の修得を目指す。

<授業計画>
1. 材料から得られる情報、プローブから見た機器分析法の分類
2. プローブとしての線源
3. 電子をプローブとする分析法(3回)、
3-1) 電子顕微鏡、電子線プローブマイクロアナリシス
3-2) オージェ電子分光法
4. 電磁波をプローブとする分析法(4〜5回)
4-1) 核磁気共鳴分析法
4-2) X線光電子分光法
4-3) X線回折法、
5. イオンをプローブとする分析法
5-1) 2次イオン質量分析法
  および質量分析法

<成績評価方法及び水準>
学期末試験により評価する。

<教科書>
使用しない。

<参考書>
入戸野修、小林睦弘 編訳 「電子・イオンを用いた材料分析法入門」(内田老鶴圃・2,060円)
山科俊郎、福田伸「表面分析の基礎と応用」(東京大学出版会・3605円)
江藤守総 編著「機器分析の基礎」(裳華房・2835円)
「機器分析入門 改訂第2版」日本分析化学会九州支部編(南江堂)
上田陽著「第4改稿版 機器分析」(広川書店)

<オフィスアワー>
授業の前後

<学生へのメッセージ>
質問、コメント大いに歓迎します。

 

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