応用Ｘ線工学ＩＩ（Applied X-ray Engineering II）[4307]

＜授業のねらい及び具体的な達成目標＞

物質の分析手段としてのＸ線を学び、Ｘ線装置を使用して「実践的に学ぶ」。実験は時間の関係で集中して行う事もある。又、前期（1）を履修していない者は、受講不可。

＜授業計画＞

　1）Ｘ線分光法。　　　→元素分析概略。
　2）Ｘ線分光法。　　　→蛍光Ｘ線分析法を学ぶ。
　3）Ｘ線分光法。　　　→Ｘ線マイクロアナライザー法。
　4) Ｘ線分光法。　　　→分析電子顕微鏡法。
　5）Ｘ線回折法。　　　→状態分析概略。
　6）Ｘ線回折法。　　　→回折原理と応用を学ぶ。
　7）実験1。　　　　　→走査電子顕微鏡によるミクロの世界。
　8）実験2。　　　　　→Ｘ線マイクロアナライザーによる観察及び元素分析の実際。
　9）実験3。　　　　　→蛍光Ｘ線による元素分析。
10）実験4。　　　　　→Ｘ線回折による状態分析。
11) 実験の評価。　　　→実験によって何が分かったか。
12）その他。

＜成績評価方法及び水準＞

レポート提出による評価。

＜教科書＞

前期と同じもの。

＜参考書＞

配布プリント。

＜オフィスアワー＞

土日を除く毎日。09：30→16：00頃まで研究室に居ます。13号館3階特殊研究室。

＜備考＞

受講は前期単位取得者に限る。

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