2003年度工学院大学 第1部電子工学科

応用X線工学II(Applied X-ray Engineering II)[4307]

[試験情報を見る]

2単位
小坂 雅夫 助教授

最終更新日 : 2003/05/10

<授業のねらい及び具体的な達成目標>
物質の分析手段としてのX線を学び、X線装置を使用して「実践的に学ぶ」。実験は時間の関係で集中して行う事もある。又、前期(1)を履修していない者は、受講不可。

<授業計画>
 1)X線分光法。   →元素分析概略。
 2)X線分光法。   →蛍光X線分析法を学ぶ。
 3)X線分光法。   →X線マイクロアナライザー法。
 4) X線分光法。   →分析電子顕微鏡法。
 5)X線回折法。   →状態分析概略。
 6)X線回折法。   →回折原理と応用を学ぶ。
 7)実験1。     →走査電子顕微鏡によるミクロの世界。
 8)実験2。     →X線マイクロアナライザーによる観察及び元素分析の実際。
 9)実験3。     →蛍光X線による元素分析。
10)実験4。     →X線回折による状態分析。
11) 実験の評価。   →実験によって何が分かったか。
12)その他。

<成績評価方法及び水準>
レポート提出による評価。

<教科書>
前期と同じもの。

<参考書>
配布プリント。

<オフィスアワー>
土日を除く毎日。09:30→16:00頃まで研究室に居ます。13号館3階特殊研究室。

<備考>
受講は前期単位取得者に限る。

 

このページの著作権は学校法人工学院大学が有しています。
Copyright(c)2003 Kogakuin University. All Rights Reserved.