2003年度工学院大学 第1部電子工学科
応用X線工学II(Applied X-ray Engineering II)[4307]
2単位 小坂 雅夫 助教授
- <授業のねらい及び具体的な達成目標>
- 物質の分析手段としてのX線を学び、X線装置を使用して「実践的に学ぶ」。実験は時間の関係で集中して行う事もある。又、前期(1)を履修していない者は、受講不可。
- <授業計画>
- 1)X線分光法。 →元素分析概略。
2)X線分光法。 →蛍光X線分析法を学ぶ。 3)X線分光法。 →X線マイクロアナライザー法。 4) X線分光法。 →分析電子顕微鏡法。 5)X線回折法。 →状態分析概略。 6)X線回折法。 →回折原理と応用を学ぶ。 7)実験1。 →走査電子顕微鏡によるミクロの世界。 8)実験2。 →X線マイクロアナライザーによる観察及び元素分析の実際。 9)実験3。 →蛍光X線による元素分析。 10)実験4。 →X線回折による状態分析。 11) 実験の評価。 →実験によって何が分かったか。 12)その他。
- <成績評価方法及び水準>
- レポート提出による評価。
- <教科書>
- 前期と同じもの。
- <参考書>
- 配布プリント。
- <オフィスアワー>
- 土日を除く毎日。09:30→16:00頃まで研究室に居ます。13号館3階特殊研究室。
- <備考>
- 受講は前期単位取得者に限る。
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